Halfgeleidercassette

Korte beschrijving:

Halfgeleidercassette– Bescherm en transporteer uw wafers met precisie met behulp van Semicera's Semiconductor Cassette, ontworpen om optimale veiligheid en efficiëntie te garanderen in hightech productieomgevingen.


Productdetail

Productlabels

Semiceraintroduceert deHalfgeleidercassette, een essentieel hulpmiddel voor de veilige en efficiënte verwerking van wafers tijdens het productieproces van halfgeleiders. Deze cassette is met hoge precisie ontworpen en zorgt ervoor dat uw wafers veilig worden opgeslagen en vervoerd, waarbij hun integriteit in elke fase behouden blijft.

Superieure bescherming en duurzaamheidDeHalfgeleidercassettevan Semicera is gebouwd om maximale bescherming te bieden aan uw wafers. Het is gemaakt van robuuste, contaminatiebestendige materialen en beschermt uw wafers tegen mogelijke schade en contaminatie, waardoor het een ideale keuze is voor cleanroomomgevingen. Het ontwerp van de cassette minimaliseert de vorming van deeltjes en zorgt ervoor dat wafers onaangeroerd en veilig blijven tijdens hantering en transport.

Verbeterd ontwerp voor optimale prestatiesSemicera'sHalfgeleidercassettebeschikt over een zorgvuldig ontworpen ontwerp dat zorgt voor een nauwkeurige uitlijning van de wafer, waardoor het risico op verkeerde uitlijning en mechanische schade wordt verminderd. De sleuven van de cassette zijn perfect uit elkaar geplaatst om elke wafel veilig vast te houden, waardoor elke beweging wordt voorkomen die tot krassen of andere onvolkomenheden zou kunnen leiden.

Veelzijdigheid en compatibiliteitDeHalfgeleidercassetteis veelzijdig en compatibel met verschillende wafelformaten, waardoor het geschikt is voor verschillende stadia van de halfgeleiderfabricage. Of u nu werkt met standaard of aangepaste waferafmetingen, deze cassette past zich aan uw behoeften aan en biedt flexibiliteit in uw productieprocessen.

Gestroomlijnde bediening en efficiëntieOntworpen met de gebruiker in gedachten, deSemicera halfgeleidercassetteis licht van gewicht en gemakkelijk te hanteren, waardoor snel en efficiënt laden en lossen mogelijk is. Dit ergonomische ontwerp bespaart niet alleen tijd, maar vermindert ook het risico op menselijke fouten, waardoor een soepele werking binnen uw instelling wordt gegarandeerd.

Voldoen aan industrienormenSemicera zorgt ervoor dat deHalfgeleidercassettevoldoet aan de hoogste industrienormen voor kwaliteit en betrouwbaarheid. Elke cassette ondergaat strenge tests om te garanderen dat deze consistent presteert onder de veeleisende omstandigheden van de halfgeleiderproductie. Deze toewijding aan kwaliteit zorgt ervoor dat uw wafers altijd beschermd zijn, waarbij de hoge normen die in de industrie vereist zijn, behouden blijven.

Artikelen

Productie

Onderzoek

Dummie

Kristalparameters

Polytype

4H

Fout in oppervlakteoriëntatie

<11-20 >4±0,15°

Elektrische parameters

Doteringsmiddel

n-type stikstof

Weerstand

0,015-0,025 ohm·cm

Mechanische parameters

Diameter

150,0 ± 0,2 mm

Dikte

350±25 μm

Primaire vlakke oriëntatie

[1-100]±5°

Primaire platte lengte

47,5 ± 1,5 mm

Secundaire flat

Geen

TTV

≤5 μm

≤10 μm

≤15 μm

LTV

≤3 μm (5 mm * 5 mm)

≤5 μm (5 mm * 5 mm)

≤10 μm (5 mm * 5 mm)

Boog

-15μm ~ 15μm

-35μm ~ 35μm

-45μm ~ 45μm

Verdraaien

≤35 μm

≤45 μm

≤55 μm

Voorste (Si-gezicht) ruwheid (AFM)

Ra≤0,2 nm (5μm*5μm)

Structuur

Dichtheid van de micropijp

<1 stuk/cm2

<10 stuks/cm2

<15 stuks/cm2

Metaalonzuiverheden

≤5E10 atomen/cm2

NA

BPD

≤1500 e/cm2

≤3000 e/cm2

NA

TSD

≤500 ea/cm2

≤1000 e/cm2

NA

Front kwaliteit

Voorkant

Si

Oppervlakteafwerking

Si-face CMP

Deeltjes

≤60ea/wafeltje (size≥0.3μm)

NA

Krassen

≤5ea/mm. Cumulatieve lengte ≤Diameter

Cumulatieve lengte≤2*Diameter

NA

Sinaasappelschil/putten/vlekken/strepen/scheuren/verontreiniging

Geen

NA

Randchips/inkepingen/breuk/zeskantplaten

Geen

Polytype-gebieden

Geen

Cumulatief gebied≤20%

Cumulatief gebied≤30%

Lasermarkering aan de voorkant

Geen

Terug Kwaliteit

Afwerking achterkant

C-face CMP

Krassen

≤5ea/mm, cumulatieve lengte≤2*Diameter

NA

Rugdefecten (randchips/inkepingen)

Geen

Ruwheid van de rug

Ra≤0,2 nm (5μm*5μm)

Lasermarkering op de achterkant

1 mm (vanaf bovenrand)

Rand

Rand

Afschuining

Verpakking

Verpakking

Epi-ready met vacuümverpakking

Verpakking met meerdere wafercassettes

*Opmerkingen: "NA" betekent geen verzoek. Niet genoemde items kunnen verwijzen naar SEMI-STD.

tech_1_2_grootte
SiC-wafels

  • Vorig:
  • Volgende: